課 程 大 綱
第壹篇 導(dǎo)引篇
一、 為什么以可靠性為中心（第 1 章）
二、 產(chǎn)品可靠性表征與壽命分布（第 2 章）
1. 產(chǎn)品的可靠性定義（2.1）
2. 產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)（2.2）
3. 可靠性指標(biāo)間的相互關(guān)系（2.3）
4. 浴盆曲線與失效率等級（2.5）
第貳篇 定量分析篇
三、 可靠性模型的建立與分析（第 3 章）
1. 可靠性模型的組成（3.1）
2. 系統(tǒng)可靠性模型（3.3）
（1） 串聯(lián)系統(tǒng)（3.3.1）
（2） 并聯(lián)系統(tǒng)（3.3.2 ）
（3） 表決系統(tǒng)(n中取r系統(tǒng)) （3.3.4）
（4） 串聯(lián)、并聯(lián)系統(tǒng)可靠性的計(jì)算（3.3.6）
（5） 可靠性預(yù)計(jì)時建模工作的注意事項(xiàng)（3.4.5）
四、 可靠性預(yù)計(jì)（第4章）
1. 可靠性預(yù)計(jì)的主要方法（4.1）
2. 計(jì)數(shù)法可靠性預(yù)計(jì)（4.4）
3. 應(yīng)力分析法的可靠性預(yù)計(jì)（4.5）
五、 可靠性分配（第 5 章）
1. 可靠性分配考慮的因素（5.1）
2. 考慮復(fù)雜度和重要度的分配方法（5.2）
3. 綜合因子法(工程加權(quán)法分配法,CW法) （5.5）
4. 可靠性指標(biāo)分配應(yīng)注意的事項(xiàng)（5.6）
六、 故障模式、效應(yīng)與危害性分析（FMECA）（第 6 章）
1. 故障模式、影響及危害性分析的概念（6.1）
2. 常用標(biāo)準(zhǔn)（6.2）
3. 軍標(biāo)FMEA/FMECA分析的步驟（6.3）
4. QS9000 的FMECA方法（6.4）
5. 分析實(shí)例（6.5）
七、 故障樹分析（第 7 章）
1. 分析的概念（7.1）
2. FTA方法基礎(chǔ)（7.2）
3. 故障樹的一般方法（7.3）
第叁篇 設(shè)計(jì)技術(shù)篇
八、 可靠性設(shè)計(jì)的目的及方法（第 8 章）
可靠性設(shè)計(jì)的指導(dǎo)思想（8.1）
九、 元器件的選用技術(shù)（第 9 章）
元器件主要失效模式及預(yù)防
十、 降額設(shè)計(jì)（第 10 章）
十一、 儲備（冗余）設(shè)計(jì)（第 12 章）
1. 儲備的含義和方式（12.1）
2. 各種儲備方式對可靠性的提高（12.2）
3. 故障模式對儲備的影響（12.3）
4. 靈活應(yīng)用儲備設(shè)計(jì)的例子（12.4）
十二、 潛在通路分析（第 14 章）
1. 潛在通路分析的由來和原理（14.1）
2. 潛在通路的表現(xiàn)形式和設(shè)計(jì)預(yù)防（14.2）
十三、 熱設(shè)計(jì)（第 16 章）
1. 概述（16.1）
2. 熱設(shè)計(jì)的原則（16.3）
3. 改善熱設(shè)計(jì)的方法及示例（16.4）
1）改進(jìn)現(xiàn)有熱設(shè)計(jì)的方法
2）成功改進(jìn)的例子
十四、 軟件質(zhì)量和可靠設(shè)計(jì)（第 20 章）
軟件可靠設(shè)計(jì)準(zhǔn)則（20.3）
第肆篇 管理控制篇
十五、 元器件的質(zhì)量與可靠性控制（第 22 章）
1. 元器件可靠性與質(zhì)量等級（22.4）
2. 元器件的質(zhì)量鑒別（22.5）
3. 案例（22.6）
第伍篇 試驗(yàn)評價篇
十六、 可靠性試驗(yàn)分類及其技術(shù)問題（第 26 、27 章）
十七、 可靠性測定試驗(yàn)（第 28 章）
1. 可靠性測定試驗(yàn)的方法與要點(diǎn)（28.1）
2. 可靠性測定試驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理方法（28.2）
3. 可靠性測定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)與置信區(qū)間估計(jì)（28.3）
十八、 可靠性鑒定與驗(yàn)收試驗(yàn)（第 29 章）
十九、 高加速壽命試驗(yàn)和應(yīng)力篩選試驗(yàn)(HALT/HASS)（第 32 章）
1. 概述（32.1）
2. HALT試驗(yàn)程序（32.3）
3. 開展HALT和HASS的幾點(diǎn)看法（32.5）
二十、 壽命和加速試驗(yàn)（第 33 章）
1. 壽命試驗(yàn)（33.1）
2. 加速壽命試驗(yàn)（33.2）
3. 舉例（33.3）
建議參加人員
從事硬件開發(fā)*主管、EMC工程師、硬件開發(fā)工程師、PCB 工程師、測試工程師、品管工程師，系統(tǒng)工程師，可靠性工程師。
優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)，提升培訓(xùn)效果
參加培訓(xùn)學(xué)員或者企業(yè)在完成培訓(xùn)后，可以享受相關(guān)賽盛技術(shù)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)，作為培訓(xùn)講授補(bǔ)充，保證培訓(xùn)效果，達(dá)到培訓(xùn)目的。主要內(nèi)容如下：
1， 【講師技術(shù)解答與指導(dǎo)服務(wù)】--培訓(xùn)完成后，參加培訓(xùn)人員相關(guān)電磁兼容問題可以得到EMC培訓(xùn)講師或賽盛技術(shù)團(tuán)隊(duì)的解答與指導(dǎo)（郵件或電話方式），作為培訓(xùn)講授的補(bǔ)充；
2， 【頻譜儀免費(fèi)使用與指導(dǎo)EMI問題】--參訓(xùn)學(xué)員可以將EMI問題產(chǎn)品或單板送到（快遞）到賽盛，免費(fèi)頻譜儀分析定位，并給出改進(jìn)建議；
3， 【靜電、EFT、浪涌問題協(xié)助分析與指導(dǎo)】--參訓(xùn)學(xué)員可以將抗擾度問題單板送到（快遞）到賽盛，協(xié)助定位分析定位，并給出改進(jìn)建議；
4， 【產(chǎn)品單板免費(fèi)原理圖與PCB】--參訓(xùn)學(xué)員可以將產(chǎn)品單板（原理圖或PCB）發(fā)給賽盛技術(shù)，可以免費(fèi)給出電磁兼容改進(jìn)方案與建議（一年有3次機(jī)會）；
5， 【EMC項(xiàng)目測試五折優(yōu)惠】--產(chǎn)品EMC摸底測試可以協(xié)助，其中ESD、EFT、SURGE項(xiàng)目測試優(yōu)惠到200元/小時，其他項(xiàng)目市場公開價九折優(yōu)惠；
6， 【贈送免費(fèi)名額一人次】--全年累計(jì)參加公開課達(dá)8人次以上（含8人次），均可贈送免費(fèi)名額一人次，有效期1年，此名額學(xué)習(xí)不受地區(qū)限制；
7， 【贈送賽盛技術(shù)光盤一份】--內(nèi)含EMC標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)電路、器件庫等一系列實(shí)用EMC資料；
8， 【定期收到每月一期的EMC專題技術(shù)期刊】--含各行業(yè)的典型產(chǎn)品EMC問題的解決方法詳解；
9， 【免費(fèi)升級產(chǎn)品EMC標(biāo)準(zhǔn)】--課后如有需要，賽盛技術(shù)為培訓(xùn)學(xué)員免費(fèi)升級產(chǎn)品EMC標(biāo)準(zhǔn)；
10， 在培訓(xùn)過程中，如有部分培訓(xùn)內(nèi)容理解不透，可免費(fèi)重聽下期同樣課題培訓(xùn)，僅限同一參會人；
講師介紹--張老師
高級工程師，獲碩士學(xué)位。曾在深圳某通信公司從事產(chǎn)品設(shè)計(jì)，曾主持低頻治療儀、通信機(jī)、日立電梯對講系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。具有豐富的硬件設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)。1994年開始從事電子產(chǎn)品可靠性測試、試驗(yàn)和可靠性技術(shù)研究。
張老師是《以可靠性為中心的質(zhì)量設(shè)計(jì)、分析和控制》一書的作者，是GJB/z299《電子設(shè)備可靠預(yù)計(jì)手冊》、GB/T7829《故障樹分析（FTA）》等標(biāo)準(zhǔn)的制訂負(fù)責(zé)人。他還編寫了《可靠性建模與分配》，《可靠性預(yù)計(jì)技術(shù)》、《可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)》、《故障模式、效應(yīng)及危害性分析（FMECA）》、《故障樹分析(FTA)》等培訓(xùn)講義。
張老師具有豐富的產(chǎn)品設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和產(chǎn)品測試實(shí)踐以及深厚的可靠性理論基礎(chǔ)。曾為地鐵2號線電源系統(tǒng)及科利公司完成可靠性、維修性設(shè)計(jì)建議書，為康佳、TCL、美的、科龍、電子36所、34所、54所、44所、26所進(jìn)行過可靠性內(nèi)訓(xùn)授課和咨詢；為我國電子行業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行了近百次公開可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)計(jì)、3F方法、元器件優(yōu)選等方面的技術(shù)培訓(xùn)。應(yīng)邀赴韓國參加韓國信賴性學(xué)會成立大會，并代表*專家在大會演講。
張老師具有*質(zhì)量工程師培訓(xùn)執(zhí)教資格，是《環(huán)境試驗(yàn)》《電子產(chǎn)品可靠性與其試驗(yàn)》編委。
