電子元器件失效分析技術及經典案例解析（廣州,4月23-24日）
【培訓日期】2010年4月23-24日
【培訓地點】廣州
【培訓對象】電子元器件、電路板或整機企業(yè)的設計工程師、質量工程師、工藝工程師、可靠性工程師、失效分析工程師。
【備注說明】本培訓班全年循環(huán)開課，如有需求，歡迎來電咨詢！
【課程背景】
電子產品在不斷與失效作斗爭中提高可靠性，失效分析是與產品失效作斗爭的最有效的工具，通過對失效產品的失效分析，診斷失效產品的失效機理，以失效機理為引導，進一步分析誘發(fā)失效機理的應力，從而診斷引起產品失效的根本原因，最終，從產品失效的根本原因所涉及的因素（如產品的材料、結構、工藝的缺陷，或產品使用不合理）入手，采取有針對性的措施，徹底消滅產品失效或有效控制產品失效。
【課程概要】
“電子元器件失效分析技術與經典案例”首先介紹電子產品（包括各種元器件、集成電路、組件等）失效分析的程序和方法，主要的失效分析設備及其應用技巧，以及失效分析中要注意的關鍵問題。然后，通過典型的失效分析案例展現產品的失效分析中怎樣考慮問題、怎樣采用合適的分析手段（分析儀器、設備），怎樣提取證據，怎樣識別各種失效機理，怎樣對獲得的各方面的信息、證據進行綜合分析以達到對失效產品進行準確診斷的目的。
【課程目的】
“失效分析技術”讓您系統(tǒng)了解失效的程序與方法，掌握失效分析的各種分析手段（儀器、設備）；“經典案例”讓您掌握電子產品的主要失效模式和失效機理，掌握失效分析的核心：分析思路，機理的識別，分析手段（儀器、設備）的應用技巧。
【課程大綱】
(一)失效分析概論
■ 基本概念
■ 失效分析的定義和作用
■ 失效模式
■ 失效機理
■ 一些標準對失效分析的要求
■ 標準和資料
(二)失效分析技術和設備
1. 失效分析基本程序
■ 基本方法與程序
■ 失效信息調查與方案設計
■ 非破壞性分析的基本路徑
■ 半破壞性分析的基本路徑
■ 破壞性分析的基本路徑
■ 報告編制
2. 非破壞性分析的基本路徑
■ 外觀檢查
■ 電參數測試分析與模擬應力試驗
■ 檢漏與PIND
■ X光與掃描聲學分析
3. 半破壞性分析的基本路徑
■ 開封技術與可動微粒收集
■ 內部氣氛檢測(與前項有沖突)
■ 不加電的內部檢查(光學.SEM與EDS.微區(qū)成分)
■ 加電的內部檢查(微探針.紅外熱像.EMMI光發(fā)射.電壓襯度像.束感生電流像.電子束探針).
4. 破壞性分析的基本路徑
■ 去除鈍化層技術(濕法.干法)
■ 剖切面技術及分析(切片)
5. 分析技術與分析設備清單
(三)失效分析典型案例
■ 系統(tǒng)設計缺陷引起的失效
■ CMOS IC 閂鎖效應失效
■ 靜電損傷失效
■ 過電損傷失效
■ 熱應力失效
■ 機械應力損傷失效
■ 電腐蝕失效
■ 污染失效
■ 熱結構缺陷引起過熱失效
■ 其他缺陷引起的失效
■ 壽命失效
【講師介紹】
李老師，*培訓資訊網()資深講師。*賽寶實驗室可靠性研究分析中心高級工程師，我國電子產品失效分析領域權威專家。1984年畢業(yè)于*電子科技*固體器件專業(yè)，一直在工業(yè)和信息化部電子第五研究所從事電子產品可靠性技術研究工作，曾經主持、參加眾多軍用電子元器件可靠性研究課題，多次獲得各級科研成果獎項。近10年來主要從事電子產品失效分析，完成大量元器件失效分析任務，具有豐富的分析經驗?，F在是電子產品失效分析項目的項目負責人，繼續(xù)承擔失效分析任務，并組織失效分析新技術的研究。服務過企業(yè)有：華為、中興集團、海爾集團、美的集團、廈華、飛通、廣東核電等上百家企業(yè)授課，學員累計數千人。
【費用及報名】
1、費用：培訓費2500元（含培訓費、講義費）；如需食宿，會務組可統(tǒng)一安排,費用自理。
2、：010-63836477 63830994 13810210257 鮑老師
3、報名流程：電話登記-->填寫報名表-->發(fā)出培訓確認函
4、備注：如課程已過期，請訪問我們的網站，查詢*課程
5、詳細資料請訪問*培訓資訊網： (每月在*開設四百多門公開課，歡迎報名學習)
